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高分辨率透射电子显微镜TEM服务
发布日期:2020-05-20
浏览次数:9671

透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜, 使用TEM可以观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构。

高分辨率透射电子显微镜(TEM)

规格型号:JEM-2100

生产厂家:日本电子株式会社(JEOL)

主要技术指标

1.晶格分辨率:0.14nm,点分辨率:0.19nm;

2.加速电压:80KV-200KV;

3.放大倍数:50-1500000.

4.元素分析范围(Elements detectable):B5-U92

服务内容

1.材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察;

2.物相鉴定,包括晶胞参数的电子衍射测定;

3.高分辨晶格和结构像观察;

4.纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。

主要功能

1.质厚衬度像;

2.选区电子衍射和微衍射;

3.衍射衬度明场像和暗场像;

4.高分辨像;

5.晶体点阵类型和点阵常数测定;

6.微小尺寸和形状的检测;

7.电子能量散射谱分析等。

应用范围

TEM的优质性能使其成为生命科学、纳米技术、医学、物理学、生物学、制药、半导体、材料科学等相关科学领域的显微形貌、晶体结构和相组织的重要观察与分方法,可应用于如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等方面,可提供样品表面特征、形状、大小、结构、元素和复合结构等,成为探索客观物质世界微观结构奥秘的强有力的手段。

样品要求

非磁性的稳定样品,复型样品,金属、陶瓷和玻璃的块体、薄膜和粉末等,更多检测事项可与技术工程师联系:400-850-6066

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